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一、儀器特點:
●探測器固定照相,區別于傳統掃描型衍射儀,照相模式高效快捷,較掃描模式快約 5-30 倍,適合做原位分析, 各角度衍射信息同一時間收集;高能量分辨率 ,有效降低熒光本底。
●測角儀θs、θd 臂采伺服電機驅動+光學編碼控制技術,探測器可沿 2θ軸做雙位置移動, 測角儀轉動更平穩,衍射角度測量更準確,線性度更好。樣品沿θ軸旋轉,控制精度 0.01°,2 θ軸角度準確度±0.02°。
●配置多片探測器單元組成探測器組件,沿衍射圓均勻固定分布,全角度無縫覆蓋;雙層 21 片(或單層 10 片)面陣探測器,覆蓋 2θ范 圍: -3°~150°,2D 成像,同時收集γ角度 信息,二維衍射數據,信息更豐富。
●X 射線面陣型光子計數半導體探測器,高靈敏,可實現單光子計數,動態范圍大,雙閾值; 點、線光源互換,徳拜謝樂與 BB 光學幾何兼備,平面、柱狀樣品兼容,探測器 2D、1D、OD 模式兼容。且抗強輻射長時照射,使用壽命長。
●散射線防護裝置更安全可靠,樣品測量時射線防護門自動禁止打開,任何情況下都能避免 操作人員受到散射線輻射。
●緊湊的尺寸可以安裝在實驗臺上,不需要特定的實驗室環境。使用、操作維護簡單。
二、設備各部分主要技術指標
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